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分光偏振计Poxi-Spectra
日期:2012/3/8                浏览次数:4868

 光学偏振态的波长色散的简单快速测量和表示

       分光偏振计(Spectroscopic Polarimeter)Poxi-Spectra自动测量白色光偏振状态的装置。利用其易操作性和高波长分辨率,可以测试光源和光学器件的分光偏振态。还可以追加选项功能的双折射与穆勒矩阵测量,进行高度的偏振光解析。为了测量高精度的偏振光,萤光和拉曼散射等微弱光,可以配置英国ANDOR公司高灵敏度CCD探测器,目前为止各种困难的偏振光状态也能对应测量。

 
  
●400~800nm全波长段的一次性测量
●波长分辨率2nm
●测量时间,最短8秒 
●不需要装置的校正
●斯托克斯参量精度 0.01
分光穆勒矩阵测量(选项)
0高次双折射测量(选项)
●微弱偏振光测量(ANDOR公司探测器,选项)
 
 
用 途
投影仪的偏振光测量
光学器件和光学系统的偏振特性评估
激光,LED,光源的偏振光测量
二色性测量
各种透射,反射偏振光测量
偏振光萤光,偏振光拉曼散射测量
微细结构测量(散射测量)
 
 
 
     
液晶投影仪的光测量结果。测量结果可用图象,Poincare球,
甚至图解简单易懂地表示。
 
 
       
双折射测量例。迟滞相差和主轴方位的测量、甚     分光穆勒矩阵测量例。从16个参量到各种光学偏
止能做高次双折射解析。                       振特性的解析。
     
 
技术规格
测量波长范围
400nm~800nm
波长分辨率
2nm
测量时间
8秒~1分
测量误差(斯托克斯参量)
く0.01
测量精度(斯托克斯参量)
く0.001
测量项目
斯托克斯参量,椭圆率,方位,偏光度
装置构造
光学头,控制器,PC,Poxi软件
自选项目
分光穆勒矩阵测量,双折射测量,高灵敏度探测器
 
  
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